A2 diagrammi dei tempi, A.2.1 tempi dei sistemi con uscita trip, A.2.2 tempi dei sistemi con uscita latch – Banner EZ-SCREEN Safety Light Curtain Systems Manuale d'uso
Pagina 73: Figura 35 a, Alla, Figura 34 a, Sistema ez-screen, Tipo 2 appendice 2

Sistema EZ-SCREEN
®
Tipo 2
Appendice 2
MANUALE D’ISTRUZIONI - VERSIONE EUROPEA
119249 rev. A 29.11.06
65
A2 DIAGRAMMI DEI TEMPI
A.2.1 TEMPI DEI SISTEMI CON USCITA TRIP
Per generare un test [controllo] affidabile per il Sistema
EZ-SCREEN Tipo 2 configurato per uscita Trip e per la sua inter-
faccia, l’ingresso TEST/RESET (pin 8) deve restare aperto per
più di 0,25 s. Periodi inferiori ai 0,25 s dovranno essere ignora-
ti. Una volta che l’ingresso TEST/RESET (pin 8) si è richiuso e
che la zona di rilevamento è libera, le uscite OSSD si porteranno
allo stato ON (vedere la
).
A.2.2 TEMPI DEI SISTEMI CON USCITA LATCH
Per generare un test [controllo] affidabile per il Sistema
EZ-SCREEN Tipo 2 configurato per uscita Latch e per la sua in-
terfaccia, l’ingresso TEST/RESET (pin 8) deve restare aperto per
più di 0,25 s. Periodi inferiori ai 0,25 s dovranno essere ignorati.
Per uscire da una condizione di blocco di sistema all’accensione
(avvio), da una condizione Latch (riavvio) o da un blocco dovuto
ad una condizione di guasto (reset), la zona di rilevamento deve
essere ripristinata e l’ingresso TEST/RESET (pin 8) deve essere
aperto per un tempo superiore a 0,25 s e quindi richiuso. Pre-
sumendo che la zona di rilevamento sia sgombra da ostacoli, le
uscite OSSD si portano allo stato ON (vedere la
).
A.2.3 TEMPI DEI SISTEMI TRIP-BLOCCO/
RESET E LATCH-AVVIO/RIAVVIO
Per uscire da una condizione di blocco di sistema all’accensione
(avvio), da una condizione Latch (riavvio) o da un blocco dovuto
ad una condizione di guasto (reset), la zona di rilevamento deve
essere ripristinata e l’ingresso TEST/RESET (pin 8) deve essere
aperto per un tempo superiore a 0,25 s e quindi richiuso. Pre-
sumendo che la zona di rilevamento sia sgombra da ostacoli, le
uscite OSSD si portano allo stato ON (vedere la
).
Figura 33 Diagramma dei tempi di test per sistemi con uscita Trip
ON
OFF
24 Vcc
0 Vcc
0,25 s
0,25 s
TEST
STATO
USCITA
Figura 34 Diagramma dei tempi di test per sistemi con uscita Latch
ON
OFF
24 Vcc
0 Vcc
0,25 s
0,25 s
TEST
0,25 s
0,25 s
STATO
USCITA
Figura 35 Diagramma dei tempi di Avvio/Reset per sistemi con uscita
OFF
24 Vcc
0 Vcc
0,25 s
0,25 s
AVVIO
STATO
USCITA