Luminex xPONENT 3.1 - Manuale (Pagina 154)

Luminex xPONENT 3.1 Manuale del software
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8. Fare clic sull’analita desiderato nella griglia numerata. Le informazioni relative agli
analiti sono visualizzate nell’elenco sulla parte destra della griglia.
9. Per modificare Default Analysis (Analisi predefinita), fare clic su Change (Cambia).
Viene visualizzata la finestra di dialogo Analisys Settings (Impostazioni analisi).
10.Selezionare il metodo di analisi dall’elenco Method (Metodo). Fare clic su OK per
cambiare l’analisi predefinita degli analiti da selezionare. Fare clic su Apply to All
Analytes (Applica a tutti gli analiti) per applicare la scelta a tutti gli analiti. La finestra di
dialogo Analysis verrà chiusa.
11.Digitare l’unità di misura desiderata nel riquadro Units (Unità). Se si fa clic su Apply
All (Applica tutto) si applicherà a tutti gli analiti. Per modificare le singole unità,
modificarle nella tabella analiti nella finestra di dialogo.
12.Digitare il conteggio microsfere desiderato per ciascun analita nel riquadro Count
(Conteggio). Per modificare le singole unità, modificarle nella tabella analiti nella
finestra di dialogo.
13.Fare clic su Next (Avanti). Si apre la scheda Stds & Ctrls (Standard e controlli); la
schermata non si apre se si seleziona No Analysis (Nessuna analisi).
14.Se si utilizza un kit di standard/controlli per l’analisi, fare clic su Apply Std/Ctrl Kit
(Applica kit standard e controlli). Nella finestra di dialogo Select Std/Ctrl Kit (Seleziona
standard o controllo) fare clic su un kit in elenco e quindi su OK. L’applicazione del kit
funziona solamente per i kit già installati, ma è anche possibile digitare manualmente le
informazioni.
15.Se non si sta utilizzando un kit, digitare le informazioni appropriate nelle sezioni
Standard Information (Informazioni standard) e Control Information (Informazioni
controllo). Il numero di standard e/o controlli in queste sezioni è definito nella scheda
Settings (Impostazioni) nella sezione Analysis Settings (Impostazioni analisi). Se il
batch usa controlli, inserire i valori appropriati in Expected Values (Valori previsti).
Fare clic su Low Value (Valore inferiore) dell’elenco Show (Mostra) e inserire il valore
inferiore di ogni analita. Fare clic su High Value (Valore superiore) dell’elenco Show
(Mostra) e inserire il valore superiore di ogni analita. Un batch personalizzato non
richiede le informazioni sui reagenti salvo che l’utente non desideri utilizzare la
funzione di analisi.
16.Fare clic su Next (Successivo), si apre la scheda Plate Layout (Layout piastra).
• Per aggiungere comandi pozzetto, fare clic sui relativi pozzetti e contrassegnarli come
sconosciuti, standard, controllo, background o lavaggio. È anche possibile cancellare i
comandi aggiunti e modificare la posizione di avvio nella piastra. Se si desidera
eseguirli in replicato, modificare Replicate Count (Conteggio replicati) al numero
desiderato e Grouping (Raggruppamento) nel metodo di raggruppamento preferito.
• Per aggiungere controlli di manutenzione, sceglierli dall’elenco. Selezionare il pozzetto
al quale applicarli, e quindi selezionare Before well command (Prima del comando
pozzetto) oppure After well command (Dopo il comando pozzetto). Se si sta
lavorando con più di una piastra, scegliere l’elenco Plate (Piastra). Qui è possibile
aggiungere una piastra, modificarne l’ordine o scorrere tutte le piastre.
• I comandi aggiunti alla piastra vengono visualizzati nell’elenco Command Sequence
(Sequenza di comandi). Qui è possibile assegnare un ID a ciascun pozzetto. È anche
possibile importare un elenco ID e spostare i comandi in alto o in basso per cambiare
l’ordine in cui saranno acquisiti.
Per ulteriori informazioni, vedere “Scheda Plate Layout (Layout piastra)” a pagina 24.
17.Fare clic su Single Step (Passo singolo) per acquisire i primi due pozzetti, quindi
sospendere l’acquisizione.
18.Fare clic su Run Batch (Esegui batch) per eseguire l’acquisizione o Save (Salva) per
salvare il batch per un momento successivo.