Luminex 100 IS Version 2.1 - Manuale (Pagina 40)

Luminex 100 IS Versione 2.1 - Manuale dell'utente Tecnologia
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MAP
4 - 12 PN 89-00002-00-088 Rev. A
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Per regolare l'altezza verticale della sonda di campionamento:
1. Accendere lo strumento XYP, l'analizzatore Luminex 100 e il
computer. Attendere l'avvio del software Luminex 100 IS.
2. Rimuovere la protezione in plastica trasparente che copre l'area
della sonda di campionamento.
3. In una piastra microtitolo a 96 pozzetti, in cui l'altezza
complessiva non è superiore a 0,75 pollici, posizionare lo
strumento di allineamento nella piastra.
Per una piastra standard con pozzetti a fondo piano, impilare due
dischi di allineamento grandi (diametro 5,08 mm) e posizionarli
nel pozzetto A1.
Per una piastra a mezzo volume con pozzetti a fondo piano,
impilare due dischi di allineamento piccoli (diametro 3,35 mm) e
posizionarli nel pozzetto A1.
Per una piastra con pozzetti conici, posizionare una sfera di
allineamento nel pozzetto A1.
4. Fare clic su Eject/Retract (Espelli/Carica) per espellere la
piastra. Posizionare la piastra microtitolo a 96 pozzetti sulla
piastra con la posizione A1 nell'angolo in alto a sinistra e fare
clic su Eject/Retract (Espelli/Carica) per caricare la piastra.
5. Allentare la vite di bloccaggio per la regolazione dell'altezza
utilizzando la chiave a brugola da 3/32 di pollice. Vedere la
Figura 24.
6. Fare clic sulla scheda Maintenance (Manutenzione).
7. Fare clic sul pulsante Sample Probe Down (Abbassa sonda di
campionamento) per abbassare la sonda di campionamento.
8. Con la rotellina, abbassare la sonda finché non raggiunge la parte
superiore dei dischi di allineamento o della sfera.
9. Stringere la vite di bloccaggio per la regolazione dell'altezza
utilizzando una chiave a brugola da 3/32 di pollice.
10. Fare clic su Sample Probe Up (Solleva sonda di
campionamento) per sollevare la sonda di campionamento.
11. Riposizionare la protezione in plastica trasparente che copre
l'area della sonda di campionamento.