Fluke Biomedical ESA612 Manuale d'uso
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ESA612
Manuale d'Uso
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Quando si esegue questo test sono possibili le seguenti
condizioni per la presa di corrente:
•
Polarità
normale
•
Polarità normale, neutro aperto
•
Polarità normale, conduttore di protezione aperto
•
Polarità invertita, neutro aperto
•
Polarità invertita, conduttore di protezione aperto
Esecuzione di un test della corrente di
dispersione nell'isolamento derivazione
(tensione di rete sulle parti applicate)
Nota
Il test di corrente di dispersione nell'isolamento
derivazione (tensione di rete su parti applicate) è
disponibile quando sono selezionati gli standard
IEC60601 e ANSI/AAMI.
Il test della corrente di dispersione nell'isolamento
derivazione (tensione di rete sulle parti applicate) misura
la corrente che circola quando si applica una tensione c.a.
isolata tra una parte applicata, un gruppo di parti applicate
o TUTTE le parti applicate e la terra (e qualsiasi parte
conduttiva collegata al terminale ROSSO). La Figura 24
mostra le connessioni tra l'analizzatore e il DUT durante
un test della corrente di dispersione della tensione di rete
sulle parti applicate.
Nota
Se viene selezionato lo standard 60601, la
tensione di test MAP può essere impostata come
normale o inversa (180 gradi fuori fase rispetto
alla tensione di rete).
Per eseguire un test dell'isolamento derivazione (tensione
di rete su parti applicate):
1. Premere
.
2. Premere il pulsante funzione More.
3. Selezionare il gruppo desiderato di parti applicate
premendo e .
Nota
Fare riferimento allo standard del test quando si
deve decidere il tipo di parti applicate e come
queste devono essere raggruppate per il test.
4. Premere il pulsante funzione Select.
5. Premere il softkey Lead Isolation.
6. Premere
o per selezionare la connessione
desiderata della parte applicata.
7. Premere
per applicare la tensione e
visualizzare la corrente di dispersione.
Premendo e si fanno scorrere i gruppi o le connessioni
di parti applicate. Premere per ciascuna
configurazione di connessioni per eseguire un test
completo del dispositivo da analizzare.